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| 1234-00/-01 专用治具式HDI基板测试机 |
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标配4腺式低阻测试机能可测范围400 μΩ～40 mΩの4
使用中央旋转台系统构造大幅度提高产能,降低单片测试时间
由于对拼板使用步进测试方式,对精细节距基板可提高探针接触的稳定性及最大限度的减小扎痕
标准配备微开,微短的测试机能
测试治具拆装,更换简单易行,基板承载盘为通用形式,适用于测试范围内的不同基板
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治具式测试机的特点(1234-00/-01、1107-60/-61)
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高精度步进检查方式同中央旋转台系统相结合,专用固定治具,高速测试适用于基板的量产检查
标准配备4腺式低阻测试机能,可通过高精度微小电阻的测试提供盲埋孔品质保证的解决方案
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高精度专用治具可保证对精细节距的IC载板进行测试
- 标配4腺式低阻测试机能可测范围400 μΩ～40 mΩの4
- 使用中央旋转台系统构造大幅度提高产能,降低单片测试时间
- 由于对拼板使用步进测试方式,对精细节距基板可提高探针接触的稳定性及最大限度的减小扎痕
- 标准配备微开,微短的测试机能
- 测试治具拆装,更换简单易行,基板承载盘为通用形式,适用于测试范围内的不同基板
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