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3504-50 C测试仪
主要特点

C、D 2项目测试
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
静电容量:最多可分成14类,能简单地根据测量值进行分类
测试源频率: 120Hz, 1kHz
高速测量: 2ms
RS-232C, GP-IB

C测试仪
详细介绍

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

高速测量2ms
能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
对应测试线,比较器功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误,提高成品率

选件:

不能单独使用,测量时需要选用测试冶具及探头.
测试冶具或电缆
SMD测试冶具 9699
line
9699 底部 SMD电极
操作频率:DC~120MHz
测量对象尺寸:W:1.0~4.0mm H:1.5mm
SMD测试冶具 9677
line
9677 侧面 SMD 电极
操作频率:DC~120MHz 
测量对象尺寸:3.5±0.5mm
SMD测试冶具 9263
line
9263 直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
测试冶具 9262
DC~5 MHz, 直结型
测试冶具 9261
line
9261 DC~5 MHz, 1 m
针型测试探头 9143
line
9143 DC~5 MHz, 1 m
4端子测试探头 9140
line
9140 DC~100 kHz, 1 m
打印机
打印机 9442
数值印字
AC电源转换器 9443-02
适用于用, 欧州
连接电缆 9444
line
9444 适用于9442, 线长:1.5 m
记录纸 1196
line
9234 112mm x 25m, 10 卷/盒
 
space
PC 通讯器
GP-IB连接电缆 9151-02
line
9151-02 2m 长

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
 
基本参数
 
测量参数
Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ
测量范围
C:0.9400pF20.0000mF
D:0.000011.99000
基本精度
(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
测定精度= 基本精度× B× C× D× E, BE为各系数
测量频率
120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:
170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV:
170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V:
70μF 量程 (测量频率 1kHz), 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻
CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
显示
发光二级管6位表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间
典型值: 2.0 ms 1 kHz, FAST
测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能
BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA
体积及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1
 
(不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)
 
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